第39周大组讨论会：2019-32

时间：2019年12月4日，晚上18：30

地点：科教楼 A1706

  报 告 人：2019级  万金磊

  报告题目：基于离群器件检测的适应性测试方法

  报告简介：

    集成电路生产过程中的一些偶然因素会造成部分器件参数异常，这些器件通常被称为离群器件，其参数不符合大多数器件参数的分布规律，被认为可能存在缺陷。识别出这些器件在测试中有许多应用，包括用于适应性测试的质量控制、替代测试的缺陷过滤器，以及为汽车领域设置通过/失败限制。在先前的工作中，离群值已经不再局限于一维和/或静态方法来识别，但对于多变量的方法却有着缺少有效的测试项筛选和跟踪工艺变化的能力。在本次汇报中，尝试将离群器件检测的方法应用到测试框架中，通过保持芯片可追溯性来提高检测能力，以保证测试故障覆盖率。