第37周大组讨论会：2019-30

时间：2019年11月20日，晚上19：00

地点：科教楼 A1706

报 告 人：2018级  李丹青

报告题目：基于RCG-RO的实时细粒度老化延时预测

报告摘要：

纳米级集成电路对容错能力提出的需求，设计时的解决方案和保护带已经不够了，基于在线监测与适应的运行时老化预测方案是必须的。偏置温度不稳定引起的晶体管老化是纳米级超大规模集成电路的主要可靠性威胁之一，它会随着时间的推移而退化路径延迟，并可能导致时序失效。因此，芯片健康监测以跟踪芯片在芯片寿命运行的基础上的延迟变化，成为保证系统可靠性的必要需求。然而，基于路径延迟的直接监测只能以反应性的方式跟踪粗粒度的老化趋势，不适合于主动的细粒度适应。本词汇报将提出一种基于提出代表性关键门的低成本、细粒度的真实受压监测方法，以准确预测老化诱导延迟。本文提出将代表性关键门的特征提取结构配置到到运行时的监控中，以监视电路延时参数变化，同时降低检测成本开销。该预测模型采用支持向量回归方法进行离线训练，并在软件中实现。这种方法可以利用主动适应技术，通过监测老化趋势来减缓电路的进一步老化。