第31周大组讨论会：2019-23

时间：2019年9月25日，晚上19：00

地点：科教楼 A1706

报 告 人：2018级  郭阳

报告题目：基于DICE的单粒子多点自恢复锁存器

报告摘要：

现阶段随着 CMOS 工艺特征尺寸的减小，电路中可能会发生单粒子翻转（Single Event Upset，SEU）的敏感节点之间的距离在不断减小，发生一颗高能粒子引起多个节点同时发生翻转的事件概率正逐渐上升。为了提高电路的可靠性，本文基于抗辐射加固设计方法提出了一种能够容忍多个节点同时发生翻转的锁存器。与传统的具有容错能力的锁存器相比，本文提出的结构不仅具有良好的抗多点翻转的能力，而且在功耗、延迟以及功耗延迟积（Power Delay Product, PDP）方面都有很大的优势。该结构可靠性高、性能优良，在提高芯片的可靠性方面具有重要意义，有实用价值。