第30周大组讨论会：2019-22

时间：2019年9月18日，晚上19：00

地点：科教楼 A1706

报 告 人：2018级  侯旺超

报告题目：基于测试值相关性的射频/模拟电路的适应性测试

报告摘要：

随着集成电路工艺的发展，在测试中一直使用同样的测试项已经越来越低效，根据批次，晶圆甚至芯片的不同表现调整测试顺序是一种可以控制测试时间，保证测试质量的方法，在自适应测试选择方法中，初始测试列表对测试结果起着至关重要的作用。大多数自适应测试方法都是根据每个测试项的失败概率来选择初始列表的，没有考虑到存在于各种测量项之间的相关性。本文提出了一种基于测量值相关性调整测试列表中的顺序的适应性测试方法，该方法与一个已有的测试流程相结合，可以有效控制测试时间，保证测试质量。利用大量的测量数据进行的实验表明，该方法具有较好的性能。