2018年8月15日-17日，由中国计算机学会（CCF）主办、CCF 容错计算专业委员会和哈尔滨工业大学共同承办的第十届中国测试学术会议（CTC 2018）在哈尔滨太阳岛花园酒店隆重召开。作为 CTC 2018指导委员会副主席的梁华国院长、黄正峰教授以及宋钛博士带领合肥工业大学电物学院系统结构实验室部分成员参加了本次大会。

本次会议与国际会议 International Test Conference in Asia 2018 (ITC-Asia)、International Workshop on Cross-layer Resiliency 2018 (IWCR) 联合举办。会议邀请了30多位 IEEE/ACM/CCF Fellow 等顶级专家以及企业代表携手11场大会特邀报告，7个高端产业论坛，50 多场论坛特邀报告，60多场学术论坛报告，参会人数超过500人，是本年度国内测试、容错、可信度领域规模最大、规格最高、影响最广的一次学术界盛会。

8月15日及16日下午，实验室成员2017级研究生苏子安、王敏同学分别于 Session 6 容错芯片与电路、 Session 9 芯片与电路测试做了专场报告，报告题目分别为基于灵敏放大器的加固触发器设计、45纳米 CMOS 工艺三模冗余加固锁存器的性能评估。 

15日晚，CTC 2018 评选出最佳论文，由实验室2012级已毕业博士生闫爱斌拔得头筹，其论文名为 Novel Multiple-Node-Upset-Tolerant Latch Designs through Radiation-Hardening-by-Design Technique for Nanoscale CMOS Technology。

15日中午参会的所有成员进行了大合照，19日晚实验室全部成员安全返校。