第14周 大组讨论会
时间：2018年5月31日 18:30
地点：双子楼A座1706
报告人：江悦
报告题目：PUF的可靠性改善研究
报告摘要：物理不可克隆函数能够高效，安全地识别和认证设备,并且实现成本较低，尤其在FPGA器件中，得到了广泛的应用。目前，已经提出了各种PUF实现技术将芯片制造过程中不可克隆的工艺波动转变为独一无二的特征标识。然而，由于复杂的操作环境，很难保证芯片ID生成的稳定性。为了解决这个问题，研究人员针对不同PUF结构提出了相应的解决方案。本次汇报主要针对SRAM-PUF和RO-PUF，介绍其目前的可靠性研究方法，并在汇报最后进行总结和展望。
