第13周 大组讨论会
时间：2018年5月24日 18:30
地点：双子楼A座1706
报告人：宋钛
报告题目：自适应测试综述（adaptive test）

报告摘要：混合信号电路日益复杂的复杂性带来了越来越复杂和全面的参数测试要求，导致制造测试时间大大延长。降低参数测试成本而不降低测试质量成为了测试开发过程中的关键挑战。参数测试数据捕捉系统工艺变化的能力使得即使在少量特征数据的基础上也能高度精确地预测每个测试对于特定批次芯片的效率。预测的测试效率可进一步调整测试装置和测试顺序，从而提前发现故障。我们通过引入一种基于测试相关性分析来修剪测试集的技术来探索这种自适应策略。提出了测试选择算法来识别提供令人满意的缺陷覆盖率的最小测试集合。使用反映缺陷检测效率的概率测量来对测试集进行排序，以便增强对故障芯片的早期检测的可能性。