第7周 大组讨论会
时间：2018年4月12日
地点：双子楼B座503
报告人：周凯
报告题目：一种基于PDLs的高度可靠的FPGA芯片认证生成器（A High Reliability FPGA Chip Identification Generator Based On PDLs）
报告摘要：
物理不可克隆函数能够高效，安全地识别和认证设备,尤其在FPGA器件中，得到了广泛的应用。已经提出了各种PUF实现技术来将芯片特定的制造变化转换为唯一的芯片ID。然而由于复杂的操作环境，很难保证芯片ID生成的稳定性。为了解决这个问题，我们提出利用PDL来配置环形振荡器以提高其芯片生成的稳定性。实验结果表明，由我们的可配置的RO PUF产生的芯片ID是随机的（通过NIST随机性测试）。另外，在广泛的操作环境下进行多次测量表明，所提出的RO PUF是高度可靠的。相对于原始RO PUF，我们没有增加额外的硬件开销，事实上，由于紧凑的布局，我们节省了大量的资源。
