梁华国，安徽合肥人，教授，博士生导师。

  1982年毕业于合肥工业大学计算机应用专业，获学士学位并留校任教。

  1987年毕业于合肥工业大学计算机应用技术专业，获硕士学位。

  1998-2003年在德国斯图加特大学计算机科学系作为访问学者，并获得斯图加特大学博士学位。

  现为中国英文计算机学报审稿人，中国计算机学会容错计算专业委员会委员。安徽省跨世纪学科骨干。
  先后主持并参加多项国际和国内的国家级研究与开发项目：德国国家自然科学基（DFG）、Philips半导体公司、国家自然科学基金、国家973计划项目、国家医药总局、大型国有企业分布式控制系统以及管理信息系统等。 
主要研究方向：
  1. 嵌入式系统综合与测试
  2. 数字系统设计自动化
  3. 高可靠性的工业控制计算机研究与开发和分布式控制系统等
科研项目：
  1.国家自然科学基金面上项目“集成电路近似计算基础理论与设计方法”（No.61834006），合作项目主持人。

  2.电子测试技术重点实验室开放基金项目“大规模数字集成电路测试向量转换系统设计”（No.614200102020717），项目主持人。

  3.国家自然科学基金面上项目“基于TSV测试与容错的3D芯片良率提升方法研究”（No.61674048），项目主持人。

  4.国家自然科学基金面上项目“纳米CMOS集成电路抗老化设计”（No.61374025），项目参与人。

  5.国家自然科学基金面上项目“基于老化特征的集成电路失效预测与防护”（No.61274036），项目主持人。

  6.国家自然科学基金面上项目“控制器的内建自恢复与内建自测试研究”（No.60876028），项目主持人。
  7.国家自然科学基金面上项目“系统芯片SOC中嵌入芯核的内建自测试研究”(No.60444001）, 项目主持人。
  8.教育部留学回国人员科研基金“高速嵌入式系统测试研究” （No.2004.527），项目主持人。
  9.国家自然科学基金重大研究计划“系统芯片SoC外建自测试方法研究” （No.90407008），项目主持人。
  10.安徽省自然科学基金“基于测试源划分的测试方法研究”（No:050420103），项目主持人。
  11.国家973计划子项目“高效率的处理芯片设计、验证与测试研究”（No.2005CB321605），项目主持人。
  12.国家自然科学基金重点项目“数字VLSI电路测试技术研究”（No.60633060），合作项目主持人。
  13.总线控制系统的控制组态软件开发（与德国宜森电子有限公司合作）
  14.博士点基金“自恢复控制器的综合与测试”（ No.200803590006），项目主持人。
  15.省xxx项目“高可靠控制器研究”（No.2008Z014），项目主持人。
教学工作 
  主要讲授课程：《数字逻辑与数字系统》，《集成电路测试基础》
指导研究生方向：
  1．计算机控制技术
  2．嵌入式系统
  3．大规模集成电路设计与测试
  4．系统芯片SoC故障诊断与测试
主要获奖情况：

  1.2019年获得安徽省教学成果奖一等奖，项目名称：“知行融创、数质并举——集成电路人才培养模式创新与实践”。完成人：梁华国，杜高明，刘士兴，李桢旻，易茂祥，鲁迎春，黄正峰，张多利。

  2.2013年获得安徽省教学成果奖一等奖（项目号：2013cgj 014），项目名称：“电子科学与技术专业人才培养与教学模式创新性研究与实践”。完成人：梁华国、刘士兴、方祥圣、黄正峰、杨明武、易茂祥、徐辉。

  3.2013年获得安徽省第七届自然科学优秀学术论文三等奖，项目名称：“一种软错误的BIST结构”。完成人：黄正峰，梁华国。

  4.2011年度获得教育部科技成果完成者证书（成果登记号：360-11-11110322-12），项目名称：“数字芯片测试技术研究”。完成人：梁华国、李晓维、李华伟、陈田、胡瑜、欧阳一鸣、韩银和、蒋翠云、易茂祥、张磊、王伟、黄正峰。

  5.2009年度安徽省科学技术奖三等奖（证书编号：2009-3-R2），项目名称：“系统芯片SOC自测试方法研究”。完成人：梁华国、黄正峰、蒋翠云、欧阳一鸣、易茂祥。

主要论著：

   出版英文专著一部，在国际著名学术会议、学术期刊和杂志，在计算机辅助设计与图形学学报等国内核心期刊上、以及在IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems(TCAD)、IEEE Transactions on Nuclear Science 、IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems(TVLSI) 、IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems(TCAD)、Electronics Letters、IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia)、IEEE VLSI Test Symposium(VTS)等国外著名期刊或会议上共发表学术论文50余篇，其中多篇被SCI、EI收录，并且多次获得欧洲国际测试会议最佳论文奖励。获得安徽省科技进步奖1项。申请或授权发明专利多件。

联系方式 ：
办公电话：(0551)62901469

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通讯地址：合肥工业大学翡翠湖校区科教楼A1805室 
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