由中科院微电子所主办，四川大学和电子科技大学承办的2017年极端环境微纳电子器件可靠性国际研讨会（2017 International Workshop on Reliability of Micro-and Nano-Electronic Devices in Harsh Environment）于5月22日至5月24日在成都川投国际酒店召开。来自中科院微电子所，西北核技术研究所，中国航天电子研究院，电子科技大学，四川大学，范德堡大学，慕尼黑工业大学，帕多瓦大学，TIMA，IROC等单位的代表参加了这次会议。

合肥工业大学电子科学与应用物理学院系统结构研究室派出姚慧杰，凤志成，李伟迪参加了本次会议，并做了墙报交流。