第13周  大组讨论会

时间：2017年05月17日19点

地点：斛兵楼 217 号会议室
报告人：吴清焐
报告题目：针对抗老化门替换算法的关键门识别方法

报告摘要：

本次报告主要介绍一种应用于抗老化门替换算法中的关键门识别方法，门替换方法作为NBTI效应的缓解技术，在防护的过程中能够直接使用标准单元库中的逻辑门进行替换，不会改变门的结构，因此常被应用于电路抗NBTI老化的研究中。本次报告首先简单介绍集成电路可靠性设计中的抗老化设计，包括研究的目的、意义和研究现状；然后针对传统门替换算法中存在的问题进行分析，提出一种改进的关键门识别方法并应用于门替换算法中；最后利用基准电路进行仿真分析，得出结论并进行总结。