第  十一 周  大组讨论会

时间：  2017 年 5 月 3 日  19 点

地点：  斛兵楼  210  号会议室
报告人：孙骏
报告题目：基于FPGA的SET敏感性评估方法研究

报告摘要：

本次报告主要内容为基于FPGA的SET敏感性评估方法研究。随着半导体工艺的发展，数字IC时钟频率不断上升，特征尺寸不断减小，SET对电路的影响越来越大，其可靠性研究显得尤为重要。基于FPGA故障注入的软错误敏感性评估方法在成本、时间等方面已经体现出巨大的优势。本次报告首先将简单介绍数字IC软错误敏感性评估的研究背景，包括研究的目的、意义、方法和国内外研究现状。然后介绍本文提出的基于单元库修改的软错误敏感性分析平台，汇报目前在该方向的研究进展。最后对基于FPGA的SET敏感性评估方法研究进行总结和展望。

请报告人提前20分钟开门。
请各位同学提前10分钟到场签到，各位老师准时参加