系统结构研究室的梁华国教授、闫爱斌教授带领学术团队参加第八届国际测试会议-亚洲分会（ITC-Asia 2024）。ITC会议是芯片测试技术领域的旗舰会议，自1970年首届举办以来，一直是该领域内最重要的国际学术盛会。本届亚洲分会于2024年8月18日至20日在中国长沙举行，主题围绕测试技术行业面临的重大挑战，涵盖了集成电路和电子系统的复杂性、硬件安全、物联网、云计算和汽车电子等新兴应用中的先进制造工艺和系统统集成技术的快速整合等议题。

我院闫爱斌教授担任本次大会程序主席，其学术成果荣获2023年度最佳会议论文奖。卞景昌博士和林炎堃博士分别在各自的专场中贡献了精彩的学术报告并同国际学者进行了深入交流。卞景昌博士汇报的论文题目是：A RO-Integrated-LFSR-Based Nonlinear Strong PUF with Intrinsic Modeling Attacks Resilience。林炎堃博士汇报的论文题目是：PFO PUF: A Lightweight Parallel Feed Obfuscation PUF Resistant to Machine Learning Attacks。

此次参会充分展现了我院在芯片测试、可靠性设计和硬件安全方面的研究实力和国际影响力。

会议链接：http://www.castest.com.cn/itcasia2024