刘军

　点击数：458发布时间：2017-04-07

简历：

刘军，博士学位，副教授，硕士生导师。 2011年博士毕业于中国科学院计算技术研究所，同年被遴选为合肥工业大学计算机与信息学院硕士生导师。主要研究方向为嵌入式系统、集成电路测试等。
教学工作：
数字逻辑与系统、计算机系统综合设计等
科研工作：
主持国家自然科学基金、安徽省自然科学基金、计算机体系结构国家重点实验室开放课题各一项；参加973、863、以及国家自然科学基金重点项目多项。
科研论文：
[1]J.Liu(刘军), Y.Han, X.Li, “Extended Selective Encoding for Reducing Test Data and Test Power”, IEICE Transactions on Information and Systems, 93(8), pp.2223-2232, 2010. (SCI, EI)
[2]刘军，吴玺，韩银和，李晓维，“基于可重构MUXs网络的低功耗测试数据压缩方法”，电子学报, 39(5)，pp.1190-1193，2011。(EI)
[3]刘军，韩银和，李晓维，“动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法”，计算机辅助设计与图形学学报，22(11)，pp.2013-2020,2010。(EI)
[4]J.Liu(刘军), Y.Han, X.Li, “Extended Selective Encoding for Reducing Test Data and Test Power”, Proceedings of IEEE Asian Test Symposium(ATS), pp.323-328, 2009. (EI)
[5]J.Liu(刘军), Y.Han, X.Li, “Scan Slices Compression Technique Using Dynamical Reference Slices”, Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT), pp.82-85, 2009.
[6]梁华国，刘军，蒋翠云，欧阳一鸣，易茂祥 “约束输入精简的多扫描链BIST方案”，计算机辅助设计与图形学学报，19(3)，pp.371-375，2007。(EI)
[7]吴玺，刘军，刘正琼，“内建自测试相移器设计算法的优化”，电子技术应用，pp.31-33，2007年第6期。
[8]刘军，梁华国，李扬， “一种基于测试数据两维压缩的BIST新方案”，合肥工业大学学报(自然科学版)，29(10)，pp.1215-1219，2006。
[9] 李扬，梁华国，刘军，胡志国，“基于部分测试向量切分的LFSR重新播种方法”，计算机辅助设计与图形学学报，19(3)，pp.361-365，2007。(EI)
[10]Y.Cheng, L.Zhang, Y.Han, J.Liu(刘军), X.Li, “Wrapper Chain Design for Testing TSVs Minimization in Circuit-Partitioned 3D SoC”, Proceedings of IEEE Asian Test Symposium(ATS), pp.181-186, 2011.(EI)

已授权的发明专利：
[1] 梁华国，刘军，蒋翠云，王伟，李扬，易茂祥，欧阳一鸣，“一种多扫描链的大规模集成电路测试数据压缩方法”，专利号：ZL 200610085910.X，授权日期：2009年7月22日
[2] 梁华国，张磊，詹文法，易茂祥，欧阳一鸣，刘军，黄正峰，李扬，毛剑波，“一种块标记的系统芯片测试数据压缩方法”，专利号：ZL 200610156030.7，授权日期：2008年12月24日