姓名: 王 伟
籍贯： 安徽合肥
职称： 硕导（博士后）
Email: wangwei.chinese@gmail.com 和 wangwei_hfut@hfut.edu.cn
联系方式：010-62600718(北京，办公)
通讯地址：
北京：北京2704信箱 系统结构重点实验室 邮编：100080
合肥：合肥工业大学计算机与信息学院 邮编：230009
教育背景:工学博士
经历::
1997.9-2001.7 合肥工业大学计算机与信息学院 本科 工学学士
2002.9-2007.7合肥工业大学计算机与信息学院 硕博连读 工学博士
2001.7-至今 合肥工业大学计算机与信息学院 教师
2007.6-至今 中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室 博士后
研究方向:
超大规模集成电路设计与测试，可测试性设计，低功耗设计与低功耗测试，Network-on-Chip测试与可靠性设计技术。
研究经历:
申请者正在参与和已完成的科研项目主要包括：
1. 国家973课题“高性能处理芯片的高可靠性设计”(2005CB321604)
2. 国家973课题“高效率的处理芯片设计、验证与测试”（2005CB321605）
3. 国家自然科学基金重点项目“数字VLSI电路测试技术研究”(60633060)
4. 国家自然科学基金重大研究计划重点项目“从行为级到版图级的设计验证与测试生
成”（90207002）
5. 安徽省自然科学基金“基于VCH和贝叶斯网的字母检测/文本检测识别方法研究”
（03042207）
6. 2006年合肥工业大学校科学研究发展基金“VLSI可测性设计中低功耗BIST技术研
究”
7. 2007.06--2009.05 ：超深亚微米CMOS电路超低测试功耗技术研究。合肥工业大学科
学研究发展基金，070501F。项目负责人。
8. 2007.07--2009.12 ：多处理器中的低功耗设计和热量管理技术。 863中国高技术研
究发展计划课题2007AA01Z113的子课题，2007AA01Z113-1。项目合作申请者与子课
题负责人。
8. 2007.12--2009.11 ：延长生命周期的众核处理器可靠性设计技术研究。中国科学院
计算机系统结构重点实验室开放课题，ICT-ARCH200704。课题负责人。
9. 2008.08-2010.08: 超深亚微米CMOS电路超低测试功耗技术研究。 中国博士后科学
基金资助项目”（China Postdoctoral Science Foundation funded project），
20080430050。课题负责人
发表论文:
[1].王伟，韩银和，李晓维，张佑生. 基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术. 电子
学报,2006,2,36(2):282-286. (EI)
[2].王伟，韩银和，胡瑜，李晓维，张佑生. SoC测试中低成本、低功耗的芯核包装方法.
计算机辅助设计与图形学学报, 2006,9,18(9):1397-1402. (EI)
[3].王伟，韩银和，胡瑜，李晓维，张佑生. 一种有效的低功耗扫描测试结构－
PowerCut. 计算机研究与发展, 2007,3,44(3):473-478. (EI)
[4].Wang Wei, Hu Yu, Han Yinhe, Li Xiaowei, Zhang Yousheng. Leakage Current
Optimization Techniques during Test based on Don’t Care Bits Assignment.
Jorunal of Computer Science and Technology, 2007, 22(5):673-680). (SCI)
[5].王伟，韩银和，徐勇军，李晓维，张佑生. 组合电路测试中的漏电流优化技术. 上海
师范大学学报（增刊）,2005,9:130-135.
[6].王伟，张佑生，方芳. 人脸检测和识别技术的综述. 合肥工业大学学报, 2006,2,29
(2):158-163.
[7].王伟，李晓维，张佑生，方芳. 静态测试功耗优化技术. 全国第17届计算机科学与技
术应用学术会议, 2006:610-614.
[8].王伟，胡瑜，李晓维，张佑生，方芳. 低成本信息化芯片技术探索. 2005数字安徽省
业博士论坛论文集, 2005:190-194.
[9].王伟，李晓维，张佑生，方芳. 芯片测试中的功耗控制技术.第四届中国测试学术会
议, 2006:240-244.
[10].Wei Wang, Yin-He Han, Xiao-Wei Li, You-Sheng Zhang, Yu Hu, Hua-Wei Li.
PowerCut-A novel low-power scan testing. Digest of Papers, IEEE 7th
Workshop on RTL and High-Level Testing, July 23-24, 2006, Fukuoka, Japan,
pp. 49-54.
[11].李佳，胡瑜，李晓维，王伟. SCANGIN:一种降低扫描测试中动态功耗的方法. 计算机
辅助设计与图形学学报，2006,9,18(9):1391-1396.
[12].韩银和，胡瑜，董婕，王伟，李华伟，李晓维. 数字电路测试压缩方法. 信息技术快
报, 2006,1,4(1):30-39.
[13].Wang Wei, Hu Yu, Han Yinhe, Li Xiaowei, Zhang Yousheng，“Leakage
Current Optimization Techniques during Test based on Don’t Care Bits
Assignment，”Journal of Computer Science and Technology（SCI）, Vol. 22,
No. 5, pp. 673-680, 2007.
教学工作:
高级体系结构
